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芯片内部探秘 火烧三星K9LAG闪存芯片图片来源:wl030827 文章出处:iMP3.net 作者:wl030827
[论坛] 发布时间:2008.04.02 17:46 原文链接
刮下来的碎屑 ![]() 芯片的背面就显示出了纯度为99.9999%的硅单质的灰黑色,具有金属光泽,但它是非金属.除了硅(Si)外,还有锗(Ge)等。
绝对可以当镜子用,呵呵 ![]() ![]() 此时还没有见到它的庐山真面目呢,还需要用小刀非常非常非常非常仔细地把芯片上的褐色的膜刮掉。 ![]() 怎么样?美吧?像防伪标记似的,转动不同的角度能变幻出不同的颜色。查了资料,那层褐色的膜有可能是二氧化硅(沙子的主要成分),英特尔的资料如下: 由于二氧化硅(SO2)具有易制性 (Manufacturability),且能减少厚度以持续改善晶体管效能,因此过去40余年来,处理器厂商均采用二氧化硅做为制作闸极电介质的材料。当英特尔导入65纳米制造工艺时,虽已全力将二氧化硅闸极电介质厚度降低至1.2纳米,相当于5层原子,但由于晶体管缩至原子大小的尺寸时,耗电和散热亦会同时增加,产生电流浪费和不必要的热能,因此若继续采用目前材料,进一步减少厚度,闸极电介质的漏电情况势将会明显攀升,令缩小晶体管技术遭遇极限。为解决此关键问题,英特尔正规划改用较厚的High-K材料(铪hafnium元素为基础的物质)作为闸极电介质,取代沿用至今已超过40年的二氧化硅,此举也成功使漏电量降低10倍以上。 ![]() ![]() 参与讨论请点击进入
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